絕緣電阻測(cè)試儀 校準(zhǔn)方法：
準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)電阻器(覆蓋量程范圍，如1MΩ、10MΩ、100MΩ、1GΩ等)，精度需高于測(cè)試儀要求15。
檢查測(cè)試儀電池電量或電源穩(wěn)定性，確保儀器正常啟動(dòng)57。
環(huán)境條件
溫度控制在20℃±5℃，相對(duì)濕度≤85%，避免電磁干擾和潮濕環(huán)境影響校準(zhǔn)精度57。
將測(cè)試儀與標(biāo)準(zhǔn)電阻器在測(cè)試環(huán)境中靜置1-2小時(shí)，確保溫度平衡8。
二、絕緣電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)方法
標(biāo)準(zhǔn)電阻法(核心方法)
將測(cè)試儀的L/E端通過測(cè)試線連接至標(biāo)準(zhǔn)電阻器兩端，選擇與標(biāo)準(zhǔn)電阻匹配的電壓檔位(如500V、1000V)13。
啟動(dòng)測(cè)試并讀取電阻值，若顯示值與標(biāo)準(zhǔn)電阻器標(biāo)稱值偏差超過允許范圍(如±5%)，需調(diào)節(jié)儀器內(nèi)部校準(zhǔn)旋鈕或軟件參數(shù)35。
比較測(cè)量法
使用兩臺(tái)及以上測(cè)試儀同時(shí)測(cè)量同一標(biāo)準(zhǔn)電阻器，對(duì)比讀數(shù)一致性，驗(yàn)證測(cè)試儀相對(duì)精度14。
頻率響應(yīng)法
針對(duì)高頻電路測(cè)試需求，在不同頻率(如50Hz、100Hz)下測(cè)量電阻值，確保儀器頻率響應(yīng)符合要求16。
溫度漂移校準(zhǔn)
在恒定溫度環(huán)境中(如高溫箱或低溫箱)測(cè)試電阻值，評(píng)估溫度對(duì)儀器精度的影響，必要時(shí)通過校準(zhǔn)旋鈕修正14。
三、絕緣電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)步驟（以標(biāo)準(zhǔn)電阻法為例）
預(yù)熱與自檢
開啟測(cè)試儀并預(yù)熱15-30分鐘，待儀器性能穩(wěn)定57。
執(zhí)行儀器自檢功能(如有)，確認(rèn)基礎(chǔ)功能正常7。
參數(shù)設(shè)置
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)電阻器阻值選擇對(duì)應(yīng)量程，設(shè)置測(cè)試電壓(如100MΩ對(duì)應(yīng)1000V)35。
連接與測(cè)試
使用屏蔽測(cè)試線連接儀器與標(biāo)準(zhǔn)電阻器，確保接口無(wú)松動(dòng)或氧化58。
啟動(dòng)測(cè)試并記錄穩(wěn)定后的電阻值，重復(fù)3次取平均值57。
誤差修正
若讀數(shù)偏差超出允許范圍，通過調(diào)節(jié)電路板上的校準(zhǔn)調(diào)節(jié)器(如阻抗、溫度補(bǔ)償旋鈕)修正78。
順時(shí)針調(diào)節(jié)增加校準(zhǔn)值，逆時(shí)針降低校準(zhǔn)值8。
多點(diǎn)驗(yàn)證
更換不同阻值的標(biāo)準(zhǔn)電阻器(如從1MΩ到1GΩ)，覆蓋全量程，確保各檔位均符合精度要求57。
四、校準(zhǔn)后處理
數(shù)據(jù)記錄與證書更新
填寫校準(zhǔn)記錄表，包括測(cè)試時(shí)間、環(huán)境條件、標(biāo)準(zhǔn)值、實(shí)測(cè)值及偏差57。
更新校準(zhǔn)證書并標(biāo)注有效期(通常為1年)57。
儀器維護(hù)
清潔測(cè)試線接口及校準(zhǔn)旋鈕，檢查導(dǎo)線絕緣層是否破損58。
長(zhǎng)期存放時(shí)斷開電池，避免高溫或腐蝕性環(huán)境影響58。
五、注意事項(xiàng)
安全操作
校準(zhǔn)過程中禁止觸碰測(cè)試線裸露部分，高壓端需放電后再拆卸連接38。
特殊場(chǎng)景處理
校準(zhǔn)高阻值(如≥1GΩ)時(shí)需通電加熱標(biāo)準(zhǔn)電阻器以去除環(huán)境濕度干擾3。
若儀器無(wú)自動(dòng)放電功能，需手動(dòng)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻器放電后再斷開連接
